愛(ài)佩科技 AP-LF 步入式高溫試驗(yàn)室的簡(jiǎn)單介紹步入式高溫試驗(yàn)室是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車(chē)用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。愛(ài)佩科技 AP-LF 步入式高溫試驗(yàn)室的詳細(xì)信息步入式高溫試驗(yàn)室是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車(chē)用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計(jì)算機(jī)、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等,通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶(hù)迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段。 設(shè)備特點(diǎn) 1.提供大型零件、半成品、成品的高溫老化測(cè)試。 2.完整的安全保護(hù)裝置。 3.超溫排風(fēng)機(jī)由變頻器控制其運(yùn)轉(zhuǎn),當(dāng)溫度下降至設(shè)定值下限時(shí)風(fēng)機(jī)停止排風(fēng),排風(fēng)系統(tǒng)同時(shí)關(guān)閉。循環(huán)系統(tǒng)在老化產(chǎn)品的過(guò)程中始終保持循環(huán)狀態(tài),以保證溫度均衡。整套系統(tǒng)動(dòng)作具有性能穩(wěn)定,控制精、溫度波動(dòng)小,均衡度高、噪音小等特點(diǎn)。 步入式高溫試驗(yàn)室技術(shù)參數(shù): 1.內(nèi)容積:12M3 2.設(shè)備尺寸:內(nèi)箱尺寸W(3000 )m × H( 2000)mm × D( 2000)mm;外型尺寸:以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn) 3.溫度范圍:RT+10~70 ℃ 4.單/雙開(kāi)門(mén)尺寸:雙開(kāi)門(mén):W(1050+1050)mm×H1900mm;( 可依客戶(hù)要求選擇或定制) 5.滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn): GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn) GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn) (每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量,濕熱試驗(yàn)時(shí)無(wú)有源濕、熱負(fù)載) 以上是愛(ài)佩科技 AP-LF 步入式高溫試驗(yàn)室的詳細(xì)信息,如果您對(duì)愛(ài)佩科技 AP-LF 步入式高溫試驗(yàn)室的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有任何疑問(wèn),請(qǐng)聯(lián)系我們獲取愛(ài)佩科技 AP-LF 步入式高溫試驗(yàn)室的最新信息 |