高精度薄膜測厚儀的原理
應(yīng)用范圍:
1、用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量;
2、對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量;
3、接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值;
4、通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完整各種紙張、紙板材料厚度測試;
★微電腦控制、大液晶顯示
★高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力,同時(shí)支持 各種非標(biāo)定制
★測量頭自動(dòng)升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測量模式,更方便客戶選擇
主要參數(shù):
測量范圍:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率 :0.1um
測量速度:10 次/分(可調(diào))
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);