愛(ài)佩科技 AP-GD 耐高低溫循環(huán)性試驗(yàn)箱循環(huán)性試驗(yàn)箱的簡(jiǎn)單介紹

愛(ài)佩科技 AP-GD 耐高低溫循環(huán)性試驗(yàn)箱循環(huán)性試驗(yàn)箱的詳細(xì)信息

耐高低溫循環(huán)性試驗(yàn)箱常用于測(cè)試和試驗(yàn)確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進(jìn)行高低溫交變或恒定溫?zé)嵩囼?yàn)各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學(xué)、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量或研發(fā)之用。

耐高低溫循環(huán)性試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)箱尺寸：深400×寬 400×高 500 mm

溫度范圍：-70℃→+150℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

升溫速率：約3℃/ min（非線性 空載）

降溫速率：約1℃/ min（非線性 空載）

外壁材料：烤漆處理

內(nèi)壁材料：不銹鋼板 SUS304

保溫材料：硬質(zhì)聚氨酯泡沫

測(cè)試環(huán)境條件：環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

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