產地：
規(guī)格：臺
公司所在地：河南鄭州
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科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的簡單介紹KT-Z1604T-RL該探針臺的承載臺為Φ60不銹鋼臺面，臺面最高可升溫到最高-190~400℃。 光學測試 ，電信號測試 ，氣敏濕敏測試 。科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的詳細信息KT-Z1604T-RL該探針臺的承載臺為Φ60不銹鋼臺面，臺面最高可升溫到最高-190~400℃。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動，三個方向均可在真空環(huán)境下精密移位調節(jié)，其中X方向調節(jié)范圍：0－30mm；y方向調節(jié)范圍：0－20mm；z方向調節(jié)范圍：0－20mm；用戶可根據(jù)需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測。 以上是科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的詳細信息，如果您對科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問，請聯(lián)系我們獲取科研IV曲線測試 電信號測試探針臺的最新信息 |
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